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半导体中的X射线应用
Sigray的X射线解决方案包括3D X射线显微镜(XRM)和真空环境下的微束X射线荧光(microXRF)系统。这些系统用于一系列半导体应用，包括从晶圆污染检查和硅侧工艺监控到封装失效分析的所有应用。
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材料科学中的X射线应用
材料科学是一门广泛的学科，涵盖从聚合物到金属的所有领域。该学科的范围可以以材料学四面体展示，其四个顶点代表加工、结构、性质和性能，而表征位于其中心。
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电池
X射线提供了对能源材料故障机制和寿命的关键洞察力，因为它们可以在电池运行中（原位地）或随时间推移提供电池结构、化学和成分的无损测量。正因如此，同步辐射方法对于现有锂离子电池的改进以及锂硫和锂空电池等新型能源方案的开发至关重要。
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地质学和矿物学中的X射线应用
Sigray的AttoMap microXRF系统是一种新型的自动化的矿物学解决方案，可提供低至 3-5 µm空间分辨率的痕量级元素分布图。对于石油天然气勘探（数字岩心物理学），Sigray的3D X 射线显微镜（EclipseXRM 和 TriLambdaXRM）为原位的三相流动和岩石孔隙的多尺度成像提供了多尺度解决方案。
